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廣州市伊測電子儀器有限公司
新增產(chǎn)品 | 公司簡介
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡單介紹
	SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀 SZT-2000	SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。
	BD-86A型半導體電阻率測試儀 BD-86A	BD-86A型半導體電阻率測試儀它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度高，穩(wěn)定性好，輸入阻抗高，使用方便、價格低廉等特點。
	STZ-8型半導體導電型號鑒別儀 STZ-8	STZ-8型半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型 “P”和 “N”的測量儀器,是采用溫差效應和整流效應兩種方法相結(jié)合綜合性的測量導電型號儀器,測量范圍廣硅材料電阻率從10-4~103Ω?cm,儀器采用高靈敏度放大電路和判別電路，將材料上的微弱信號放大，并用 “P” “N”數(shù)碼直接顯示，儀器采用手持式四探然探頭，使用簡單，操作方便，且壽命長，適合半導體材料廠、器件廠和科研部門需要。
	FZ-2006型半導體粉末電阻率測試儀 FZ-2006型半導體粉末電阻率測試儀	FZ-2006型半導體粉末電阻率測試儀適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測量的測試臺和儀器組成.

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